| 韓系廠商開發(fā)Mro LED檢測設(shè)備，助力提升良率降低 |
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據(jù)韓媒報道，韓國設(shè)備廠商TopEngineering開發(fā)了一套名為TNCEL-W的MicroLED檢測設(shè)備，采用新型的芯片測量和檢測技術(shù)，能夠改善MicroLED制程的生產(chǎn)良率。
據(jù)介紹，TNCEL-W可在MicroLED芯片轉(zhuǎn)移至基板之前篩選出有缺陷的芯片，在不直接接觸芯片的情況下，同時采用電氣測量和光學(xué)測量方法進(jìn)行芯片檢測，有望最大程度降低對MicroLED芯片的損害，從而減少MicroLED像素點返修制程的成本和時間，助力解決MicroLED量產(chǎn)的難題。
MicroLED測試樣本
據(jù)悉，TNCEL-W是首款在無需直接接觸MicroLED芯片的條件下，同時應(yīng)用電氣測量和光學(xué)測量技術(shù)的檢測設(shè)備。相比現(xiàn)有的LED芯片檢測設(shè)備，TNCEL-W可在晶圓制程階段批量檢測小于50?的MicroLED芯片。同時，檢測速度也顯著得到提升。
TopEngineering透露，目前公司正在與韓國國內(nèi)和國外客戶開展設(shè)備性能測試，預(yù)計最早將于今年底向客戶供應(yīng)TNCEL-W檢測設(shè)備。
下一步，TopEngineering計劃提升設(shè)備的檢測性能。
TopEngineering表示，公司將采用人工智能技術(shù)，聚焦于分析芯片缺陷類型，減少制程時間。除了4英寸晶圓檢測之外，該公司計劃開發(fā)能夠檢測6英寸晶圓的設(shè)備，預(yù)計明年第三季實現(xiàn)該戰(zhàn)略目標(biāo)，以應(yīng)對MicroLED大規(guī)模量產(chǎn)的需求。
前端設(shè)備技術(shù)持續(xù)突破，MicroLED量產(chǎn)有望提速
眾所周知，MicroLED因具備高對比度、高亮度、長壽命、優(yōu)異穩(wěn)定性、低功耗等優(yōu)點而成為顯示界的焦點。不過，MicroLED芯片穩(wěn)定從外延片上轉(zhuǎn)移至顯示背板的過程需要高水平技術(shù)才能夠完成。雖然部分廠商已將開始量產(chǎn)MicroLED產(chǎn)品，但實際上仍面臨低良率的問題，而主要難題就在于芯片轉(zhuǎn)移和接合制程。
對于提升良率來說，其中一個障礙就是出現(xiàn)有缺陷的芯片。如果沒有將缺陷芯片準(zhǔn)確挑選出來，并將其轉(zhuǎn)移至顯示背板上，那么就不可避免地會出現(xiàn)不合格的像素點，后續(xù)廠商在維修像素點上將花費很多成本和時間，從而導(dǎo)致量產(chǎn)時間推遲。
可以看到，TopEngineering已針對這個問題，開發(fā)了相應(yīng)的解決方案。除了這家廠商之外，其實，近年來，全球范圍內(nèi)多數(shù)MicroLED相關(guān)廠商均針對MicroLED前端制程的測試和檢測等問題，積極投入研發(fā)，以期提升MicroLED后端制程和整個生產(chǎn)過程的效率和良率，從而降低成本，加快量產(chǎn)的進(jìn)程。
其中，蘋果正在開發(fā)提高M(jìn)icroLED顯示屏品質(zhì)管控的方法，并于今年初獲得“MicroLED芯片檢測”專利。這項技術(shù)同樣是在MicroLED芯片轉(zhuǎn)移至顯示背板之前對芯片質(zhì)量進(jìn)行檢測，從而降低生產(chǎn)制程的損失和缺陷率，有助于提升顯示屏的可靠性和質(zhì)量。
此外，以色列檢測設(shè)備廠商InZiv在MicroLED測試和檢測等技術(shù)領(lǐng)域也擁有獨特的方法。目前，該公司已與多家MicroLED大廠開展合作。
據(jù)了解，InZiv技術(shù)以高分辨率提供全晶圓和局部單個像素檢測。其檢測系統(tǒng)結(jié)合AOI、PL光致發(fā)光測試和EL電致發(fā)光測試，提供外量子效率和角度測量等關(guān)鍵測試，可對整個晶片及其子像素特征進(jìn)行綜合分析。基于這種獨特的組合，MicroLED開發(fā)人員能夠更好地了解光、顏色、電壓和結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系，有助于解決MicroLED的關(guān)鍵難題。
2020年，InZiv在接受LEDinside采訪時透露，InZiv已推出MicroLED的晶圓檢測方案，該方案可在25分鐘以內(nèi)通過PL方法完整檢驗單片6英寸晶圓，期望今年能將檢測時間縮短至15分鐘以內(nèi)。同時，InZiv也在打造能夠檢測整個晶圓的EL方案。
除了上述提及的廠商，還有廠商已經(jīng)在MicroLED測試和檢測技術(shù)上取得進(jìn)步。由此可見，MicroLED生產(chǎn)的前端制程正在不斷實現(xiàn)技術(shù)的突破，為后端制程掃除障礙。隨著相關(guān)廠商的積極推廣，后續(xù)將有更多先進(jìn)的設(shè)備投入實際應(yīng)用，推動MicroLED的量產(chǎn)化進(jìn)程。 |
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