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技術(shù)服務(wù)

二手設(shè)備維修翻新

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二手半導(dǎo)體設(shè)備

圖片

設(shè)備名稱

制造商

型號(hào)

年份

詳細(xì)配置

狀態(tài)

KLA EDR-7380缺陷檢測(cè)設(shè)備

KLA EDR-7380缺陷檢測(cè)設(shè)備

EDR-7380

-

12"設(shè)備完整不缺件300mm;

國(guó)外

KLA STARLIGHT301(300SL)測(cè)量設(shè)備

KLA STARLIGHT301(300SL)測(cè)量設(shè)備

STARLIGHT301(300SL)

-

8"設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA SP1-TBI測(cè)量設(shè)備

KLA SP1-TBI測(cè)量設(shè)備

SP1-TBI

-

8"設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA SCD-XT測(cè)量設(shè)備

KLA SCD-XT測(cè)量設(shè)備

SCD-XT

-

12"設(shè)備完整不缺件,有3臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)外

KLA Archer A300 AIM測(cè)量設(shè)備

KLA Archer A300 AIM測(cè)量設(shè)備

Archer A300 AIM

2010

設(shè)備完整不缺件,日本倉(cāng)庫(kù)中；

國(guó)外

KLA Surfscan SP2晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Surfscan SP2晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

SP2

-

設(shè)備完整不缺件,有2臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)外

KLA Surfscan SP2晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Surfscan SP2晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

SP2

-

設(shè)備完整不缺件,有2臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA ES31量測(cè)設(shè)備

KLA ES31量測(cè)設(shè)備

ES31

-

300mm設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA 2131晶圓表面檢測(cè)設(shè)備

KLA 2131晶圓表面檢測(cè)設(shè)備

2131

-

150mm設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA FLX2908晶圓表面檢測(cè)設(shè)備

KLA FLX2908晶圓表面檢測(cè)設(shè)備

FLX2908

-

150mm設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA SF4500晶圓表面檢測(cè)設(shè)備

KLA SF4500晶圓表面檢測(cè)設(shè)備

SF4500

-

150mm設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA AWUS3110晶圓探針臺(tái)

KLA AWUS3110晶圓探針臺(tái)

AWUS3110

-

200mm設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA UV1250SE薄膜測(cè)量系統(tǒng)

KLA UV1250SE薄膜測(cè)量系統(tǒng)

UV1250SE

-

200mm設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA AIT-3缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

KLA AIT-3缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

AIT-3

-

200mm設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA 2139缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

KLA 2139缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

2139

-

200mm設(shè)備完整不缺件,設(shè)備狀態(tài)差;

國(guó)外

KLA ARCHER 10套刻精度測(cè)量設(shè)備

KLA ARCHER 10套刻精度測(cè)量設(shè)備

ARCHER 10

-

200mm設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA 2131光罩缺陷檢測(cè)設(shè)備

KLA 2131光罩缺陷檢測(cè)設(shè)備

2131

-

150mm設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA 2401缺陷檢測(cè)設(shè)備

KLA 2401缺陷檢測(cè)設(shè)備

2401

-

200mm設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA SF27缺陷檢測(cè)

KLA SF27缺陷檢測(cè)

SF27

-

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)內(nèi)

KLA candela CS20表面分析儀

KLA candela CS20表面分析儀

CS20

2010

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)內(nèi)

KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測(cè)

KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測(cè)

Leica INS3300

2015

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)內(nèi)

KLA Surfscan SP2晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Surfscan SP2晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

SP2

2011

設(shè)備完整不缺件,在線熱機(jī),晶圓片300mm;

國(guó)外

KLA Candela 8420表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Candela 8420表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

Candela 8420

2020

6"設(shè)備完整不缺件,20年入廠,設(shè)備九成新以上,安裝調(diào)試加20萬(wàn)元

國(guó)內(nèi)

KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測(cè)儀

KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測(cè)儀

SFS6220

1997

2016年翻新,激光器于2020年3月更換,最后一次PM于2023

國(guó)外

KLA P15臺(tái)階儀

KLA P15臺(tái)階儀

P15

-

設(shè)備完整不缺件,質(zhì)保3月加3萬(wàn)元;

國(guó)內(nèi)

KLA RS55方阻測(cè)試儀

KLA RS55方阻測(cè)試儀

RS55

2000

設(shè)備完整不缺件,有2臺(tái)現(xiàn)貨(有臺(tái)缺件,打包賣+20W);

國(guó)內(nèi)

KLA Tencor SFS6420晶圓檢測(cè)

KLA Tencor SFS6420晶圓檢測(cè)

SFS6420

1995

設(shè)備完整不缺件,有1臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)外

KLA 2132缺陷檢測(cè)儀

KLA 2132缺陷檢測(cè)儀

2132

1996

設(shè)備完整不缺件,安裝調(diào)試加70W左右,備件成本太高;

國(guó)內(nèi)

KLA 2135缺陷檢測(cè)

KLA 2135缺陷檢測(cè)

2135

1998

在線熱機(jī),設(shè)備完整不缺件,安裝調(diào)試加10W;

國(guó)內(nèi)

KLA Tencor CS10 R表面分析儀

KLA Tencor CS10 R表面分析儀

CS10 R

-

國(guó)外

KLA Tencor SFS6420晶圓檢測(cè)

KLA Tencor SFS6420晶圓檢測(cè)

SFS6420

2007

國(guó)外

KLA Tencor 8720芯片缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Tencor 8720芯片缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

Tencor-8720

2017

設(shè)備完整不缺件,在線熱機(jī)在亞洲;

國(guó)外

KLA Tencor 8620晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Tencor 8620晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

8620

-

國(guó)外

KLA SURFSCAN SFS6200晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA SURFSCAN SFS6200晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

SFS6200

1995

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA Tencor 8720芯片缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Tencor 8720芯片缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

Tencor-8720

2017

美國(guó)在線熱機(jī),用于4英寸和6英寸;

國(guó)外

KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

SP1-TBI

2007

TBI翻新掩模和晶圓檢測(cè),300/200mm x 3個(gè)端口,設(shè)備在

國(guó)外

KLA Surfscan SP2晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Surfscan SP2晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

SP2

2001

設(shè)備缺件;

國(guó)內(nèi)

KLA Tencor SFS6420晶圓檢測(cè)

KLA Tencor SFS6420晶圓檢測(cè)

SFS6420

1995

設(shè)備完整不缺件,有1臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA Tencor UV-1280SE薄膜測(cè)量系統(tǒng)

KLA Tencor UV-1280SE薄膜測(cè)量系統(tǒng)

UV1280SE

2001

用途：薄膜測(cè)量系統(tǒng)
型號(hào)：UV1280SE
出廠日期：2001

國(guó)外

KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測(cè)量?jī)x

KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測(cè)量?jī)x

SP1-TBI

-

國(guó)外

KLA Tencor UV-1280SE薄膜測(cè)量系統(tǒng)

KLA Tencor UV-1280SE薄膜測(cè)量系統(tǒng)

UV1280SE

2000

已翻修完無(wú)缺件,可驗(yàn)機(jī)保固3個(gè)月;

國(guó)內(nèi)

KLA Leica INS3000側(cè)掃聲納

KLA Leica INS3000側(cè)掃聲納

INS3000

1999

有2臺(tái),月底賣掉..

國(guó)外

KLA Tencor RS-75薄膜測(cè)量系統(tǒng)

KLA Tencor RS-75薄膜測(cè)量系統(tǒng)

RS-75

-

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測(cè)儀

KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測(cè)儀

SFS6220

-

設(shè)備完整不缺件,正運(yùn)回中國(guó);

國(guó)內(nèi)

KLA Tencor 6400晶圓檢測(cè)設(shè)備

KLA Tencor 6400晶圓檢測(cè)設(shè)備

6400

1994

競(jìng)標(biāo)中..

國(guó)外

KLA Tencor 7700缺陷測(cè)試儀

KLA Tencor 7700缺陷測(cè)試儀

Tencor-7700

1997

國(guó)外

KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測(cè)儀

KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測(cè)儀

SFS6220

2001

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)內(nèi)

KLA SURFSCAN SFS6200晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA SURFSCAN SFS6200晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

SFS6200

1992

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)內(nèi)

KLA SURFSCAN 4500顆粒檢測(cè)儀

KLA SURFSCAN 4500顆粒檢測(cè)儀

4500

-

國(guó)外

KLA Surfscan SP3晶圓缺陷檢測(cè)

KLA Surfscan SP3晶圓缺陷檢測(cè)

SP3

2014

在線熱機(jī),2月份拆機(jī);

國(guó)外

KLA Surfscan SP5晶圓缺陷檢測(cè)

KLA Surfscan SP5晶圓缺陷檢測(cè)

Surfscan SP5

-

設(shè)備完整不缺件;

已售出

KLA 2131缺陷測(cè)試儀

KLA 2131缺陷測(cè)試儀

2131

-

6"備件機(jī);

國(guó)內(nèi)

KLA Kevex 7600顆粒測(cè)試儀

KLA Kevex 7600顆粒測(cè)試儀

Kevex 7600

-

6"備件機(jī);

國(guó)內(nèi)

KLA Kevex 7600顆粒測(cè)試儀

KLA Kevex 7600顆粒測(cè)試儀

Kevex 7600

-

6"備件機(jī);

國(guó)內(nèi)

KLA Viper 2401缺陷測(cè)試儀

KLA Viper 2401缺陷測(cè)試儀

Viper 2401

-

6"備件機(jī);

國(guó)內(nèi)

KLA Tencor 7700缺陷測(cè)試儀

KLA Tencor 7700缺陷測(cè)試儀

Tencor-7700

-

6"備件機(jī);

國(guó)內(nèi)

KLA AIT 1缺陷測(cè)試儀

KLA AIT 1缺陷測(cè)試儀

AIT 1

-

6"備件機(jī);

國(guó)內(nèi)

KLA Kevex 7600顆粒測(cè)試儀

KLA Kevex 7600顆粒測(cè)試儀

Kevex 7600

-

6"備件機(jī);

國(guó)內(nèi)

KLA OP2600膜厚儀

KLA OP2600膜厚儀

OP2600

-

設(shè)備完整不缺件,正運(yùn)回中國(guó);

國(guó)內(nèi)

KLA CI-T130 lead scanner掃腳機(jī)

KLA CI-T130 lead scanner掃腳機(jī)

CI-T130

-

國(guó)外

KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機(jī)

KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機(jī)

CI-T130

-

國(guó)外

KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機(jī)

KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機(jī)

CI-T120

-

國(guó)外

KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機(jī)

KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機(jī)

CI-T130

-

國(guó)外

KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機(jī)

KLA CI-T130 Lead scanner掃腳機(jī)

CI-T130

-

國(guó)外

KLA CI-T830 Lead scanner掃腳機(jī)

KLA CI-T830 Lead scanner掃腳機(jī)

CI-T830

-

國(guó)外

KLA Industrial Camera工業(yè)相機(jī)

KLA Industrial Camera工業(yè)相機(jī)

IVC-1600

-

國(guó)外

KLA Industrial Camera工業(yè)相機(jī)

KLA Industrial Camera工業(yè)相機(jī)

IVC-2000

-

國(guó)外

KLA IVC-4000缺陷檢測(cè)設(shè)備

KLA IVC-4000缺陷檢測(cè)設(shè)備

IVC-4000

-

國(guó)外

KLA-Tencor (ICOS) CD測(cè)量

KLA-Tencor (ICOS) CD測(cè)量

Manual

-

國(guó)外

KLA-Tencor (ICOS) CD測(cè)量

KLA-Tencor (ICOS) CD測(cè)量

ICOS6100_7.6

-

國(guó)外

KLA FLX-5400 Flexus晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x

KLA FLX-5400 Flexus晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x

FLX-5400

2015-02-01

國(guó)外

KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測(cè)儀

KLA SURFSCAN SFS6220顆粒檢測(cè)儀

SFS6220

1999

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA Surfscan SP3(上料機(jī)構(gòu))

KLA Surfscan SP3(上料機(jī)構(gòu))

SP3

2012.3

上料機(jī)構(gòu);

國(guó)外

KLA Surfscan SP2晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Surfscan SP2晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

SP2

2011

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA UV-1050薄膜測(cè)量系統(tǒng)

KLA UV-1050薄膜測(cè)量系統(tǒng)

UV-1050

1996.5

200mm As-Is, Where-Is;含軟件及硬盤

國(guó)外

KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測(cè)

KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測(cè)

Leica INS3300

2002.8

300mm As-Is, Where-Is;不含硬盤

國(guó)外

KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測(cè)

KLA Leica INS3300晶圓缺陷檢測(cè)

Leica INS3300

2005.2

300mm,Where-Is,不含硬盤;

國(guó)外

KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測(cè)量?jī)x

KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測(cè)量?jī)x

SP1-TBI

-

Equipment Make: KLA-Tencor
Equ

國(guó)外

HITACHI KLA8100掃描電鏡

HITACHI KLA8100掃描電鏡

KLA8100

-

6"有1臺(tái);

已售出

KLA 2131缺陷檢測(cè)設(shè)備

KLA 2131缺陷檢測(cè)設(shè)備

2131

-

6"有1臺(tái);

已售出

KLA RS75方阻測(cè)試儀

KLA RS75方阻測(cè)試儀

RS75

2000

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)內(nèi)

KLA Leica INM300金相顯微鏡

KLA Leica INM300金相顯微鏡

INM300

-

國(guó)外

KLA P-15單向節(jié)流閥

KLA P-15單向節(jié)流閥

P-15

-

國(guó)外

KLA PHX DF 5.0缺陷檢測(cè)設(shè)備

KLA PHX DF 5.0缺陷檢測(cè)設(shè)備

PHX DF 5.0

-

國(guó)外

KLA Ultrascan 9300掩模版檢測(cè)設(shè)備

KLA Ultrascan 9300掩模版檢測(cè)設(shè)備

Ultrascan 9300

-

國(guó)外

KLA Ultrascan 9000光測(cè)量系統(tǒng)

KLA Ultrascan 9000光測(cè)量系統(tǒng)

Ultrascan 9000

-

國(guó)外

KLA AFS-3220晶圓缺陷檢測(cè)

KLA AFS-3220晶圓缺陷檢測(cè)

AFS-3220

-

國(guó)外

KLA Surfscan SP3晶圓缺陷檢測(cè)

KLA Surfscan SP3晶圓缺陷檢測(cè)

SP3

-

設(shè)備完整不缺件,含序列號(hào);

國(guó)內(nèi)

KLA Surfscan SP1 DLS晶圓檢測(cè)儀

KLA Surfscan SP1 DLS晶圓檢測(cè)儀

SP1-DLS

-

國(guó)外

KLA ACROTEC6020晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備

KLA ACROTEC6020晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備

ACROTEC 6020

-

Inspection system/PC/HDD.

國(guó)外

KLA 8935-FFC AOI晶圓檢測(cè)設(shè)備

KLA 8935-FFC AOI晶圓檢測(cè)設(shè)備

8935-FFC

2022

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA Tencor UV-1280SE薄膜測(cè)量系統(tǒng)

KLA Tencor UV-1280SE薄膜測(cè)量系統(tǒng)

UV1280SE

2000

Film Thickness Measurement

國(guó)外

KLA Filmetrics F20薄膜測(cè)厚儀

KLA Filmetrics F20薄膜測(cè)厚儀

F20

2021

Thickness Measurement

國(guó)外

KLA ADE 9500晶圓計(jì)量與檢測(cè)設(shè)備

KLA ADE 9500晶圓計(jì)量與檢測(cè)設(shè)備

ADE-9500

-

Multifunctional measurement

國(guó)外

KLA-Tencor M-Gage 300薄膜電阻測(cè)量設(shè)備

KLA-Tencor M-Gage 300薄膜電阻測(cè)量設(shè)備

M-Gage 300

2001

Al Thickness measurement 8寸

國(guó)外

KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

SP1-TBI

-

有兩臺(tái)

國(guó)外

KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Surfscan SP1 TBI晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

SP1-TBI

2000

Kla-tencor One Technology Driveu

已售出

KLA FLX2908缺陷檢測(cè)設(shè)備

KLA FLX2908缺陷檢測(cè)設(shè)備

FLX2908

-

8"設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA Tencor 8620晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Tencor 8620晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

8620

-

12"設(shè)備完整不缺件,有2臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)外

KLA 2350晶圓檢測(cè)設(shè)備

KLA 2350晶圓檢測(cè)設(shè)備

2350

-

8"設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA EDR 5200+電子束缺陷檢查設(shè)備

KLA EDR 5200+電子束缺陷檢查設(shè)備

5200+

-

設(shè)備完整不缺件,無(wú)硬盤;

國(guó)內(nèi)

KLA CANDELA CS2薄膜測(cè)量

KLA CANDELA CS2薄膜測(cè)量

CANDELA CS2

-

國(guó)內(nèi)

KLA AIT Ⅱ缺陷檢測(cè)儀

KLA AIT Ⅱ缺陷檢測(cè)儀

AIT Ⅱ

1999

國(guó)外

KLA EDR-5210S晶圓缺陷檢查系統(tǒng)

KLA EDR-5210S晶圓缺陷檢查系統(tǒng)

EDR-5210S

2011

國(guó)外

KLA Tencor UV-1280SE薄膜測(cè)量系統(tǒng)

KLA Tencor UV-1280SE薄膜測(cè)量系統(tǒng)

UV1280SE

2003

國(guó)外

KLA AIT II-I缺陷檢查儀

KLA AIT II-I缺陷檢查儀

AIT II-I

2001

設(shè)備完整不缺件,有1臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA 2133缺陷檢查儀

KLA 2133缺陷檢查儀

2133

2011

設(shè)備完整不缺件,有1臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA 2132缺陷檢測(cè)儀

KLA 2132缺陷檢測(cè)儀

2132

1995

設(shè)備完整不缺件,有1臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA CRS1010缺陷檢查儀

KLA CRS1010缺陷檢查儀

CRS1010

1995/1996

設(shè)備完整不缺件,有2臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA TENCOR AIT 8010缺陷檢查儀

KLA TENCOR AIT 8010缺陷檢查儀

TENCOR AIT 8010

1998

設(shè)備完整不缺件,有1臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA TENCOR SFS 7700顆粒測(cè)試儀

KLA TENCOR SFS 7700顆粒測(cè)試儀

TENCOR SFS 7700

1995*2

設(shè)備完整不缺件,有2臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA TENCOR SFS 7600顆粒測(cè)試儀

KLA TENCOR SFS 7600顆粒測(cè)試儀

TENCOR SFS 7600

1995

設(shè)備完整不缺件,有1臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA TENCOR SFS 7600M顆粒測(cè)試儀

KLA TENCOR SFS 7600M顆粒測(cè)試儀

TENCOR SFS 7600M

1994/1995

設(shè)備完整不缺件,有2臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA RS55方阻測(cè)試儀

KLA RS55方阻測(cè)試儀

RS55

2000

設(shè)備完整不缺件,有1臺(tái)現(xiàn)貨;

已售出

KLA TENCOR VP10E阻值測(cè)試儀

KLA TENCOR VP10E阻值測(cè)試儀

TENCOR VP10E

1995

設(shè)備完整不缺件,有1臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA TENCOR VP10阻值測(cè)試儀

KLA TENCOR VP10阻值測(cè)試儀

TENCOR VP10

1995

設(shè)備完整不缺件,有1臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA TENCOR Mgage300阻值測(cè)試儀

KLA TENCOR Mgage300阻值測(cè)試儀

TENCOR Mgage300

1993

設(shè)備完整不缺件,有1臺(tái)現(xiàn)貨;

國(guó)內(nèi)

KLA Tencor 2552缺陷數(shù)據(jù)分析處理儀

KLA Tencor 2552缺陷數(shù)據(jù)分析處理儀

2552

-

國(guó)外

KLA Spectra FX200薄膜量測(cè)

KLA Spectra FX200薄膜量測(cè)

FX200

2008

設(shè)備完整不缺件,在新加坡;

國(guó)外

KLA Viper 2435晶圓檢測(cè)設(shè)備

KLA Viper 2435晶圓檢測(cè)設(shè)備

Viper 2435

2006

國(guó)外

KLA Viper 2438晶圓檢測(cè)設(shè)備

KLA Viper 2438晶圓檢測(cè)設(shè)備

Viper 2438

2008

國(guó)外

KLA Spectra FX200薄膜量測(cè)

KLA Spectra FX200薄膜量測(cè)

FX200

2006

[Power-on] 2port(TDK), Yaskawa(Al

國(guó)外

KLA CRS1010晶圓載臺(tái)控制器

KLA CRS1010晶圓載臺(tái)控制器

CRS1010

1998

國(guó)外

KLA Polylite 88薄膜測(cè)量系統(tǒng)

KLA Polylite 88薄膜測(cè)量系統(tǒng)

Polylite 88

-

國(guó)外

KLA Viper 2438晶圓檢測(cè)設(shè)備

KLA Viper 2438晶圓檢測(cè)設(shè)備

Viper 2438

2010

國(guó)外

KLA Tencor ES31晶圓檢查系統(tǒng)

KLA Tencor ES31晶圓檢查系統(tǒng)

ES31

2004

E-beam Inspection / SEMs in Micro

國(guó)外

KLA DP2缺陷檢測(cè)設(shè)備

KLA DP2缺陷檢測(cè)設(shè)備

DP2

2012

DP2 Data Prep Station

國(guó)外

KLA 8920i AOI晶圓檢測(cè)設(shè)備

KLA 8920i AOI晶圓檢測(cè)設(shè)備

8920i

2022

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA 8935i AOI晶圓檢測(cè)設(shè)備

KLA 8935i AOI晶圓檢測(cè)設(shè)備

8935i

2022

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)外

KLA 2132缺陷檢測(cè)儀

KLA 2132缺陷檢測(cè)儀

2132

1996

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)內(nèi)

KLA P170探針式表面檢測(cè)儀

KLA P170探針式表面檢測(cè)儀

P170

2022

設(shè)備完整不缺件;

國(guó)內(nèi)

KLA NANOMAPPER表面輪廓儀

KLA NANOMAPPER表面輪廓儀

NANOMAPPER

2006

[As-is] 2x Open Foup type, Kensin

國(guó)外

KLA HRP-340表面輪廓測(cè)量系統(tǒng)

KLA HRP-340表面輪廓測(cè)量系統(tǒng)

HRP-340

2004

2port(Asyst ISO port), stage lock

國(guó)外

KLA EDR-5210電子束缺陷再檢測(cè)

KLA EDR-5210電子束缺陷再檢測(cè)

EDR-5210

-

2x Load port( Brooks, Brooks Robo

國(guó)外

KLA EDR-5210電子束缺陷再檢測(cè)

KLA EDR-5210電子束缺陷再檢測(cè)

EDR-5210

2010

2xLoad port(Brooks FixLoad), Robo

國(guó)外

KLA Puma 9130晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Puma 9130晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

Puma 9130

2005

[As-is] 2ea*Loadport(Asyst), PRI

已售出

KLA Puma 9000晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Puma 9000晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

Puma 9000

2005

[As-is] Handler missing, Dell pow

國(guó)外

KLA WI-2280晶圓檢測(cè)機(jī)臺(tái)

KLA WI-2280晶圓檢測(cè)機(jī)臺(tái)

WI-2280

-

國(guó)外

KLA WI-2280晶圓檢測(cè)機(jī)臺(tái)

KLA WI-2280晶圓檢測(cè)機(jī)臺(tái)

WI-2280

-

國(guó)外

KLA AIT UV晶圓檢測(cè)設(shè)備

KLA AIT UV晶圓檢測(cè)設(shè)備

AIT UV

2003

國(guó)外

KLA Puma 9000晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Puma 9000晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

Puma 9000

2005

[Semi power-on] 2port(Asyst ISO p

國(guó)外

KLA Puma 9000晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Puma 9000晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

Puma 9000

2005

[As-is] 2ea*Loadport(Phoenix), Ya

國(guó)外

KLA Aleris CX晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Aleris CX晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

Aleris CX

2007

[As-is] 2*loadport(TDK TAS300), Y

國(guó)外

KLA Surfscan 2.1晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

KLA Surfscan 2.1晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

Surfscan 2.1

-

國(guó)外

KLA MPV CD2 AMC檢測(cè)設(shè)備

KLA MPV CD2 AMC檢測(cè)設(shè)備

MPV CD2 AMC

-

國(guó)外

KLA MPV CD2 AMC檢測(cè)設(shè)備

KLA MPV CD2 AMC檢測(cè)設(shè)備

MPV CD2 AMC

-

國(guó)外

KLA MPV-CD尺寸量測(cè)設(shè)備

KLA MPV-CD尺寸量測(cè)設(shè)備

MPV-CD

-

國(guó)外

KLA SFS7700顆粒測(cè)試儀設(shè)備‌

KLA SFS7700顆粒測(cè)試儀設(shè)備‌

SFS7700

-

國(guó)外

KLA Ergolux表面輪廓儀

KLA Ergolux表面輪廓儀

Ergolux

-

國(guó)外

KLA INM100+INS10顯微鏡

KLA INM100+INS10顯微鏡

INM100+INS10

-

國(guó)外

KLA CI-T53P檢測(cè)設(shè)備

KLA CI-T53P檢測(cè)設(shè)備

CI-T53P

-

國(guó)外

KLA ICOS T830測(cè)試系統(tǒng)

KLA ICOS T830測(cè)試系統(tǒng)

ICOS T830

-

國(guó)外

KLA candela CS20表面分析儀

KLA candela CS20表面分析儀

CS20

2011

4-8"設(shè)備完整不缺件;
卡盤尺寸：3.7"
光學(xué)頭組件：

國(guó)外

KLA Leica AT500激光跟蹤儀

KLA Leica AT500激光跟蹤儀

AT500

-

國(guó)外

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ULTRATECH AP300光刻機(jī)

二手半導(dǎo)體設(shè)備ULTRATECH-AP300出售-翻新

DISCO DGP8761HC研磨機(jī)

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LAM Research EOS晶圓清洗設(shè)備(8腔)

二手半導(dǎo)體設(shè)備LAM-Research EOS出售-翻新

LAM Research EOS晶圓清洗設(shè)備(16腔)

二手半導(dǎo)體設(shè)備LAM-Research EOS出售-翻新

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